近日，航天二院201所元器件可靠性技術研究中心成功中標國家實驗室一芯片可靠性研究項目。本次中標進一步鞏固了201所在元器件可靠性領域的優(yōu)勢地位，實現(xiàn)了任務來源向更高層次的跨越，為后續(xù)深耕發(fā)展打下堅實基礎。
該項目將對集成射頻封裝芯片開展可靠性保證要求及驗證方法、試驗技術標準制定等研究工作，為集成射頻封裝芯片可靠性工程提供支撐。（文/王長鑫）
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